// esp ACADEMY

EDI hat schon zu viele Fehler live im Projekt gesehen, um sie dir nicht zu ersparen.

Wissen aus echten Projekten: verständlich vermittelt, direkt einsetzbar.

EDI, die Eule, Maskottchen von esp ACADEMY

EDI

Der Experte

Messaufbau mit Auswerteelektronik im LaborVision-Aufbau mit Auswertung am NotebookOptiklabor mit mehreren MessplätzenOptischer Aufbau auf einer LochrasterplatteBeleuchteter Lichtleiter im Versuchsaufbau

Wissen, das man sofort nutzen kann.EDI hat die Fehler schon für dich gemacht.Aus der Praxis. Für die Praxis.MSA, FMEA und Co. endlich verständlich.Schulung ohne Schlaf-Modus.

Wir schulen nicht aus dem Lehrbuch, sondern aus dem, was in unseren eigenen Projekten schiefgegangen ist, und wie wir es gelöst haben. EDI bündelt dieses Praxiswissen in Workshops und Schulungen, die du am nächsten Tag direkt im eigenen Projekt anwenden kannst.

// Themenfelder

Was EDI dir beibringt

01

Qualität

MSA, FMEA, SPC und Risikomanagement: die Werkzeuge, die verhindern, dass Fehler erst beim Kunden auffallen.

02

Konstruktion

Toleranzrechnung und Design for Manufacturing, damit die Zeichnung auch in der Fertigung noch funktioniert.

03

Lean

Lean Management, Kaizen und Prozessoptimierung, praxisnah statt theoretisch.

04

Vision und Optik

Kamerasysteme, Beleuchtung und optische Messtechnik: die Grundlagen, die jedes Vision-Projekt entweder tragen oder zum Scheitern bringen.

05

Projektmanagement

Technische Projekte und Produktentwicklung, geleitet von Leuten, die selbst mitten in solchen Projekten stecken.

06

Consulting

Analyse, Coaching und Umsetzungsbegleitung, wenn du nicht nur eine Schulung, sondern einen Sparringspartner brauchst.

// Format

Vor Ort, online oder individuell zugeschnitten, je nachdem, was zu deinem Team passt.

// Kurse

Kurse der esp ACADEMY

Schulungen aus echten Projekten, in kleinen Gruppen bei uns in Gais oder bei dir vor Ort. Die Termine vereinbaren wir mit dir, die Preise gelten pro Person bei vier bis acht Teilnehmenden.

Alle Termine im Überblick

Referenzen

Ausgewählte Projekte

Wafer-Ausrichtung im Submikrometerbereich: warum zwei Marken nicht genügen

Vision-Systeme

Wafer-Ausrichtung im Submikrometerbereich: warum zwei Marken nicht genügen

Sechs Wafer, zwei Markentypen, eine Anlage. In der einen Konfiguration lag die Platzierung unter 1 µm, in der anderen bei 5 bis 6 µm. Der Unterschied lag nicht in der Mechanik, sondern in der Zahl der Messpunkte.

Zielgenauigkeit
±1 µm
Markenerkennung
±0,6 µm, 500 Bilder je Typ
Platzierung Fläche auf Fläche
< 1 µm
Drei Messmaschinen, ein Technologietransfer

Produktionslinien

Drei Messmaschinen, ein Technologietransfer

Drei baugleiche Messmaschinen für eine Produktionslinie. Die erste haben wir gebaut, die zweite und dritte der Kunde selbst, nach Unterlagen, die genau dafür geschrieben waren.

Systeme
3 komplette Messmaschinen
Wiederholgenauigkeit Schnittstelle
±1 µm
Lieferantenpositionen
über 20

// Alle drei Bereiche

Drei Köpfe. Eine Lösung.

SIGI denkt sich die Lösung aus, PAULI baut sie, EDI erklärt sie dir. Du kannst bei jedem von ihnen einsteigen.

SIGI, der Fuchs, Maskottchen von esp SOLUTIONS

esp SOLUTIONS

SIGI

PAULI, der Biber, Maskottchen von esp WORKS

esp WORKS

PAULI

EDI, die Eule, Maskottchen von esp ACADEMY

esp ACADEMY

EDI

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